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刘宝琛,蔺书田.白光散斑法应用于结构内壁的变形和应变的测量[J].实验力学,1986,1(3):
白光散斑法应用于结构内壁的变形和应变的测量
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刘宝琛
蔺书田
清华大学,清华大学
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本文用透射白光散斑法测量了化工容器接头(三通)模型内壁的位移场,与有限元计算结果符合得很好;同时测量了圆柱壳内表面裂纹的断裂力学参量,与有关结果进行了比较。
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