| 胡时胜,唐志平,王礼立.应变片技术在动态力学测量中的应用[J].实验力学,1987,2(2): |
| 应变片技术在动态力学测量中的应用 |
| Application of Strain Gage Technique in Dynamic Measurement |
| |
| DOI： |
| 中文关键词: 应变片,动态力学 |
| 英文关键词:strain gage, dynamics., |
| 基金项目: |
| 胡时胜 唐志平 王礼立 |
| 中国科技大学，中国科技大学，中国科技大学 |
| 摘要点击次数: 287 |
| 全文下载次数: 23 |
| 中文摘要: |
| 本文详细讨论了应变片技术,特别是半导体应变片技术在动态力学测量中的若干技术问题,主要有应变片及起动态应变仪的频率响应问题,应变片灵敏系数的动态标定问题。文章指出,随着数据处理微机化的日益普及,半导体材料所存在的非线性特性及拉压不对称性将不再影响到半导体应变片技术的推广使用。相反地,灵敏系数极高这一优良特性将使该项技术获得日益广泛的应用。 |
| 英文摘要: |
| In this paper the strain gage technique, especially the semiconductor strain gage technique, used in dynamic measurement is discussed in detail. The emphases are laid on the frequency responses of strain gage and the ultra-dynamic strain amplifier as well |
| 查看全文 下载PDF阅读器 |
| 关闭 |
|
|
|
|
|
