刘宝琛,史训清.云纹干涉反转倍增法及其在微电子组件变形场测量中的应用[J].实验力学,1996,11(4): 云纹干涉反转倍增法及其在微电子组件变形场测量中的应用    DOI： 中文关键词:  反转倍增 云纹法 膜／基组件 微电子组件 英文关键词: 基金项目: 刘宝琛  史训清 摘要点击次数: 146 全文下载次数: 17 中文摘要:        英文摘要:        查看全文  下载PDF阅读器 关闭

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