| 徐学东,张亦良.局部屏蔽法在X—Ray残余应力测量中的应用[J].实验力学,1997,12(1): |
| 局部屏蔽法在X—Ray残余应力测量中的应用 |
| Application of Local Covered X Ray Technique to Residual Stress Measurement |
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| DOI： |
| 中文关键词: 屏蔽膜，X射线，残余应力 |
| 英文关键词:screen film,X ray,residual stress. |
| 基金项目: |
| 徐学东 张亦良 |
| 北京工业大学 |
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| 中文摘要: |
| 本文所述的局部屏蔽法即是在Ｘ射线测量过程中的下遮挡法，即是将被测部位暴露出来，而将其余部位进行遮挡以对Ｘ射线进行屏蔽。局部屏蔽法是解决应力梯度测量中的一种有效方法，本文解决了遮挡法的关键问题并取得了良好的效果 |
| 英文摘要: |
| The local covered X ray technique used in the process of residual stress measurement is a technique means that the concerned area is exposed and the rest of area can be screened from X ray.This technique is an efficient method for measuring the area wit |
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