刘剑飞,王正道.低阻抗多孔介质材料的SHPB实验技术[J].实验力学,1998,13(2): 低阻抗多孔介质材料的SHPB实验技术    DOI： 中文关键词:  多孔介质，半导体应变片测量技术，分离式Hopkinson压杆 英文关键词:porous material, measurement technology of semiconductor strain gage, Split Hopkinson Pressure Bar 基金项目:中国工程物理研究院基金 刘剑飞  王正道 中国科学技术大学 摘要点击次数: 305 全文下载次数: 15 中文摘要:       低阻抗多孔介质材料具有较低的密度和弹性波速，对其实施动态压缩实验具有一定的难度。本文在充分分析聚氨酯泡沫试件由于低阻抗所带来的各种影响因素后，提出了在ＳＨＰＢ装置上对低阻抗多孔介质材料进行动态测试时所应采取的半导体应变片技术及新的ＳＨＰＢ数据计算模式，初步解决了ＳＨＰＢ装置上对低阻抗多孔介质测试的难点。 英文摘要:        查看全文  下载PDF阅读器 关闭

网站版权：《实验力学》编辑部
您是本站第 65668559 位访问者,今日一共访问862次,当前在线人数: 0
技术支持：本系统由北京勤云科技发展有限公司设计