| 江桂荣,胡长华.用双频栅测三维物体的形状[J].实验力学,2002,17(1): |
| 用双频栅测三维物体的形状 |
| Two-Frequency Grating Method used for Phase-Measuring in Profilometry |
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| DOI： |
| 中文关键词: 三维轮廓术 双频栅 包裹相位图 像素点 栅距 条纹分析 相位去包裹技术 |
| 英文关键词:three dimensional profilometry,unwrapping,two-frequency grating |
| 基金项目: |
| 江桂荣 胡长华 |
| [1]包头市职业技术学院车辆工程系，包头014030 [2]北京理工大学力学系，北京100081 |
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| 中文摘要: |
| 本文介绍了一种新的相位测量轮廓术，通过使用不同栅距的栅获得两幅包裹相位图，然后比较这两幅包裹相位图，求得物体上任一像素点的绝对相位值，从而确定物体上任一点的高度。这种方法的优点是实验过程简单，精度高，相位的求解在整个过程中是单独进行的，不需借助相邻点，所以求得的相位值是各点的绝对相位，而且它可测量高度上中跳跃的物体的面形。 |
| 英文摘要: |
| A method of absolute phase determination in profilometry is proposed. In the method, two wrapped phases are acquired by using two different period gratings, the absolute phase at each pixel is then unwrapped by comparing the two wrapped phases. The main a |
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