邓兵,李喜德,施惠基,胡小方.用双视场电子散斑干涉实现检测表面的变尺度同时测量[J].实验力学,2003,18(4): |
用双视场电子散斑干涉实现检测表面的变尺度同时测量 |
Simultaneous Measurement of Deformations for Macro and Micro Surface Areas by Using Double-Field-of-View Electronic Speckle pattern Interferometry |
|
DOI: |
中文关键词: 双视场电子散斑干涉 变尺度测量 材料力学性能 变形测量 有限元数值分析 缺陷检测 位移场分布 |
英文关键词:double-field-of-view ESPI,varied-scale measurement,material mechanical property,displacement measurement |
基金项目:国家自然科学基金资助项目10072031,10232030,国家重点基础研究专项经费G1999065002的资助 |
邓兵 李喜德 施惠基 胡小方 |
[1]清华大学工程力学系,北京100084 [2]中国科学技术大学力学和机械工程系,合肥230027 |
摘要点击次数: 289 |
全文下载次数: 18 |
中文摘要: |
结构或材料中所含的微小缺陷对其宏观力学性能具有重要的影响,探讨这些微小缺陷引起的微变形及其在结构整体变形中所占的份额,对于有效地评估结构和材料的整体性能及局部演化过程都具有重要的理论和工程价值,本文应用双视场电子散斑干涉技术,实现了对被测对象表面的全场变形和局部微观场变形的同时实时检测,给出了宏观及局部位移场分布,并结合有限元数值分析与实验结果进行了比较。 |
英文摘要: |
Micro defects or cracks in the material or a structure have an important effect on its macro-scale mechanical property. So it is valuable to evaluate the entire property of the material by investigating the effects of the defects and the deformation fluct |
查看全文 下载PDF阅读器 |
关闭 |