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王铷,$2,$2,何世平,付绍军.二维变线距光栅密度的检测[J].实验力学,2004,19(3):
二维变线距光栅密度的检测
Measurement of Two-dimensional Varied-line-space Gratings
  
DOI:
中文关键词:  全息光栅 变线距光栅 全息干涉条纹 二维 线密度 激光核聚变装置 场分布 检测研究 配合 制作
英文关键词:varied-line-space gratings,line density,Morie interferometry,fringe image process
基金项目:国家自然科学基金资助项目,批准号:10272098
王铷  $2  $2  何世平  付绍军
[1]中国科学技术大学力学和机械工程系,安徽合肥230027 [2]中国科学技术大学国家同步辐射实验室,安徽合肥230027
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中文摘要:
      变线距全息光栅平面单色仪由于具有自动聚焦、消像差、高分辨率以及减少杂散光等能力,因而在同步辐射装置、激光核聚变装置以及太空望远镜等设备中有着重要的应用。由于变线距全息光栅的制作及检测存在着相当的难度,制约了变线距全息光栅的推广应用。因此,变线距全息光栅的制作及检测研究,具有十分重要的理论及应用意义。变线距全息光栅的制作必须有高精度的密度检测技术相配合。比如,在变线距全息光栅的制作过程中,需要对用于形成变线距光栅的全息干涉条纹的线密度进行检测;对于已经制成的变线距全息光栅的线密度也需要进行检测,以检查光栅的制作质量。因此,变线距全息光栅线密度的检测,对提高变线距全息光栅的制作质量起着十分关键的作用。文中给出了二维变线距光栅的密度描述公式,讨论了干涉条纹的物理意义;应用干涉云纹法和条纹图像处理技术,对二维变线距光栅的密度分布进行了检测研究,给出了光栅密度的全场分布,并讨论了检测精度。
英文摘要:
      Owing to its ability of focusing automatically, eliminating aberration, high resolution and less stray light, the plane monochromator of variable line space (VLS) with grating holographic recording has significant applications in synchrotron radiation dev
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