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徐鹏,范锦彪,祖静.高g值冲击下存储测试电路模块缓冲保护研究[J].实验力学,2005,20(4):610~614
高g值冲击下存储测试电路模块缓冲保护研究
The Buffer of On-board Test Circuit Module in High g Shock
  
DOI:
中文关键词:  侵彻,缓冲,加速度,存储测试
英文关键词:penetration,buffer,acceleration,On-board test
基金项目:武器装备预研基金项目(51847040104HT1401)
徐鹏  范锦彪  祖静
中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室 山西太原030051
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中文摘要:
      为了采用弹载存储测试技术记录弹体高速侵彻硬目标过程中的加速度—时间曲线,必须对存储测试电路模块进行缓冲保护。本文利用非线性缓冲理论、技术,选择较理想的缓冲材料,设计出缓冲器件-泡沫铝试件,进行了静态压缩,得到应力-应变曲线,采用LS-DYNA模拟了空气炮冲击实验中泡沫铝试件的缓冲效果,并对应用于某型号弹侵彻混凝土靶的存储测试电路模块进行了缓冲保护,提高了数据的捕获率和电路模块的重复使用次数。通过试验证明了所设计缓冲器件对电路模块具有保护效果。
英文摘要:
      In order to record the real time acceleration-time curve for a projectile of penetrating hard target in high velocity with on-board test technique,the circuit module must be cushioned and protected.In this paper,we discussed the non-linear buffer's theory
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